天眼查顯示，比亞迪半導(dǎo)體股份有限公司“存儲(chǔ)器測(cè)試方法、存儲(chǔ)器測(cè)試裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和電子設(shè)備”專利公布，申請(qǐng)公布日為2024年12月27日，申請(qǐng)公布號(hào)為CN119207534A。本發(fā)明公開(kāi)了一種存儲(chǔ)器測(cè)試方法、存儲(chǔ)器測(cè)試裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和電子設(shè)備，所述存儲(chǔ)器測(cè)試方法包括：遍歷待測(cè)存儲(chǔ)器的每個(gè)存儲(chǔ)單元，在遍歷過(guò)程中，按照預(yù)設(shè)行進(jìn)規(guī)則對(duì)遍歷到的目標(biāo)存儲(chǔ)單元以及與所述目標(biāo)存儲(chǔ)單元相鄰的相鄰存儲(chǔ)單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫操作；對(duì)所述目標(biāo)存儲(chǔ)單元的讀取數(shù)據(jù)與所述相鄰存儲(chǔ)單元的讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行邏輯運(yùn)算，以獲得實(shí)際邏輯關(guān)系值；若所述實(shí)際邏輯關(guān)系值與標(biāo)準(zhǔn)邏輯關(guān)系值不一致，則確定所述待測(cè)存儲(chǔ)器存在故障，采用該方法可以通過(guò)實(shí)際邏輯關(guān)系值來(lái)檢測(cè)到存儲(chǔ)器的故障情況，測(cè)試算法的可靠性較高，同時(shí)兼顧故障覆蓋率和測(cè)試復(fù)雜度，且故障測(cè)試效率較高。